X射線粉末衍射儀利用具有一定發(fā)散度的特征X光束照射多晶平板樣品。當X射線入射到晶體時,會在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場,引起原子中的電子振動?;诰w結(jié)構(gòu)的周期性,晶體中各個電子的散射波會相互干涉、相互疊加,形成衍射。散射波周相一致并相互加強的方向被稱為衍射方向,這些方向上的衍射線會被檢測并記錄下來。通過分析這些衍射線的強度和位置,可以推斷出晶體的結(jié)構(gòu)信息。
主要由以下四大部分組成:
1.X射線發(fā)生器:產(chǎn)生X射線束,作為入射光源。
2.測角儀:用于精確控制樣品和探測器之間的角度,確保衍射線的準確測量。
3.X射線強度測量系統(tǒng):檢測并記錄衍射線的強度和位置。
4.衍射儀控制與衍射數(shù)據(jù)采集、處理系統(tǒng):負責整個儀器的控制、數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理工作。
X射線粉末衍射儀具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,主要包括:
1.物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)分析:通過衍射圖譜可以確定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、晶胞參數(shù)等信息。
2.物相分析:用于鑒定物質(zhì)中的相組成,包括定性和定量分析。
3.點陣參數(shù)測定:測量晶體的點陣常數(shù)、晶粒尺寸等參數(shù)。
4.材料科學(xué)研究:在材料科學(xué)領(lǐng)域,X射線粉末衍射儀被用于研究材料的結(jié)構(gòu)、相變、應(yīng)力等問題。
5.化學(xué)、物理、生物及礦物學(xué)等領(lǐng)域:這些領(lǐng)域的研究也常常需要用到X射線粉末衍射儀進行物質(zhì)結(jié)構(gòu)的分析。
X射線粉末衍射儀是一種重要的物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析儀器,在科學(xué)研究、工業(yè)生產(chǎn)等多個領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。