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SEM掃描電鏡的核心部件包括電子槍、聚焦系統(tǒng)、掃描系統(tǒng)和檢測系統(tǒng)等。電子槍產(chǎn)生的高能電子束經(jīng)過聚焦系統(tǒng)聚焦后，由于電子與樣品的相互作用，會(huì)發(fā)生各種信號(hào)的反射和散射。掃描系統(tǒng)通過控制電子束的掃描位置，將收集到的信號(hào)轉(zhuǎn)換為電子束掃描像素點(diǎn)的亮度值。檢測系統(tǒng)則將這些信號(hào)轉(zhuǎn)換為電子束的亮度，形成圖像。分辨率高，可以觀察到更細(xì)微的細(xì)節(jié)和表面形貌。其次，具有更廣泛的觀察范圍，可以用于不同尺寸和形狀的樣品。再次，具有非常強(qiáng)的深度成像能力，可以觀察到樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和組織。此外，還可以應(yīng)用于非...

X射線粉末衍射儀XRD，通常應(yīng)用于晶體結(jié)構(gòu)的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時(shí)在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動(dòng),因原子核的質(zhì)量很大振動(dòng)忽略不計(jì)。振動(dòng)著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同?；诰w結(jié)構(gòu)的周期性,晶體中各個(gè)電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍射。散射波周相一致相互加強(qiáng)的方向稱衍射方向,產(chǎn)生衍射線。適用領(lǐng)域：1.材料晶體大小的測定期模擬計(jì)算。2.半導(dǎo)體基底上薄膜生長的納米材料分析。3.納米材料中的物相定性分析。4.納...

高光譜成像技術(shù)是基于非常多窄波段的影像數(shù)據(jù)技術(shù)，它將成像技術(shù)與光譜技術(shù)相結(jié)合，探測目標(biāo)的二維幾何空間及一維光譜信息，獲取高光譜分辨率的連續(xù)、窄波段的圖像數(shù)據(jù)。高光譜成像技術(shù)發(fā)展迅速，常見的包括光柵分光、聲光可調(diào)諧濾波分光、棱鏡分光、芯片鍍膜等?？梢詰?yīng)用在食品安全、醫(yī)學(xué)診斷、航天領(lǐng)域等領(lǐng)域。與其他光譜成像—樣，高光譜成像收集和處理來自電磁波譜的信息。目標(biāo)是獲得場景圖像中每個(gè)像素的光譜，可用于尋找物體，識(shí)別材料或檢測過程。其光譜成像有兩種，其一是推掃式掃描，它能夠隨著時(shí)間的推移讀...

煤巖分析系統(tǒng)是一種用于冶金工程技術(shù)領(lǐng)域的分析儀器，用于巖礦、石油顯微組織的觀察與分析以及煤炭的反射率及焦炭組分分析。其優(yōu)點(diǎn)有哪些？(1)測定速度快：每分鐘測定1000點(diǎn)；(2)測定點(diǎn)數(shù)多：至少測定1萬點(diǎn)；(3)測定省時(shí)省力；(4)不受人為因素干擾，測定結(jié)果客觀公正；(5)測定符合統(tǒng)計(jì)規(guī)律，測定結(jié)果重現(xiàn)性與再現(xiàn)性都優(yōu)于有關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)；(6)可滿足焦化企業(yè)應(yīng)用中快速、代表性好等要求；(7)可發(fā)現(xiàn)人工或半自動(dòng)測定由于測點(diǎn)少，不能測定到少量混入成分的問題；Fossil全自動(dòng)煤巖分析系統(tǒng)...

普通掃描電鏡基于高能電子束與樣品表面相互作用，采用信號(hào)檢測系統(tǒng)獲得樣品反饋信號(hào)，并通過數(shù)字轉(zhuǎn)換器處理并重建圖像。這種原理使SEM具有高分辨率、高靈敏度和高定量性等優(yōu)點(diǎn)。普通掃描電鏡使用注意事項(xiàng)：1.操作時(shí)需要穿戴防護(hù)設(shè)備，確保個(gè)人安全；2.在操作時(shí)應(yīng)注意鏡頭、樣品和設(shè)備的清潔和維護(hù)，保持其良好狀態(tài)。1.準(zhǔn)確的電鏡使用方法和規(guī)范的操作流程可以延長電鏡的使用壽命和提高工作效率。2.要定期進(jìn)行電鏡的清潔和維護(hù)，特別是鏡頭、樣品臺(tái)、探針等部件，使用專業(yè)清潔劑進(jìn)行清潔。3.電鏡放置在干...

X射線粉末衍射儀主要用于研究物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)、物相分析、測定點(diǎn)陣參數(shù)等，廣泛用于大中專院校、科研單位及工礦企業(yè)實(shí)驗(yàn)室。主要用于研究物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)、物相分析、測定點(diǎn)陣參數(shù)等，廣泛用于大中專院校、科研單位及工礦企業(yè)實(shí)驗(yàn)室。主要用途：1、可對(duì)各種多晶樣品進(jìn)行物相定性與定量分析及結(jié)構(gòu)分析。2、分峰和譜圖擬合及晶胞參數(shù)、晶粒尺寸、結(jié)晶度測定等。3、本儀器除進(jìn)行常規(guī)粉末物質(zhì)檢測外，該儀器在化學(xué)、物理材料、生物及礦物學(xué)領(lǐng)域均有廣泛應(yīng)用。4、儀器配置附件可進(jìn)行原位反應(yīng)物相分析、粒徑分析、纖維取向分...

低溫環(huán)境XRD是一種常用的材料研究手段，可以用于檢測材料的晶體結(jié)構(gòu)、物相組成、晶格缺陷等信息。原理基于物質(zhì)在低溫下會(huì)發(fā)生晶格結(jié)構(gòu)的變化，這種變化可以通過X射線衍射分析來檢測。具體而言，當(dāng)物質(zhì)受到X射線照射時(shí)，X射線會(huì)穿過物質(zhì)并產(chǎn)生衍射。衍射信號(hào)的強(qiáng)度取決于物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)的變化會(huì)導(dǎo)致衍射信號(hào)的強(qiáng)度發(fā)生變化。通過對(duì)衍射信號(hào)的分析，可以推斷出物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、物相組成、晶格缺陷等信息。在材料科學(xué)領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。例如，在陶瓷材料、高分子材料、金屬材料等領(lǐng)域，低溫環(huán)境下X射線...